INTRODUCCION
La difracción de rayos x es una técnica analítica no destructiva y de las más importantes en la caracterización de materiales cristalinos, tales como los metales, cerámicos, polímeros, intermetálicos, minerales, u otros compuestos orgánicos e inorgánicos.
Panalytical Empyream Philips X'Pert MPD
Para la identificación de las fases cristalinas contamos con los programas Match y el X'Pert High Score Plus y con las bases de datos cristalográficas ICSD (Inorganic Crystal Structure Database) con 124,335 compuestos y la PDF-2 de la ICDD (International Centre for Diffraction Data) con 230,346 compuestos.
Características de las muestras que pueden ser caracterizadas
- Muestras en polvo: Deberá tener un tamaño de partícula no mayor de 0.1 mm y con la mayor uniformidad posible.
- Muestras sólidas (caso de un metal ó algunos minerales), podrá ser analizado siempre y cuando presente una superficie plana, de preferencia pulida metalograficamente de la cara que se caracterizara.
- Para el análisis de películas delgadas, las muestras deberán ser completamente planas.
El análisis por difracción de rayos X se utiliza sobre cualquier material sólido. Es ampliamente utilizado en materiales:
- Inorgánicos
- Superconductores
- Orgánicos
- Cementos
- Minerales
- Materiales corrosivos
- Polímeros
- Zeolitas
- Detergentes
- Pigmentos
- Productos farmacéuticos
- Explosivos
- Conductores iónicos
- Metales y aleaciones
- Materiales forenses
- Cerámicas
Servicios externos que se ofrecen en el Laboratorio:
- Determinación cualitativa de fases.
- Determinación cuantitativa de fases.
La técnica de rayos X puede ser utilizada para identificar las fases presentes en la muestra, desde materia prima de partida hasta un producto final. Esta técnica ha sido utilizada durante muchas décadas con gran éxito para proporcionar información precisa sobre la estructura de los materiales. La calidad del patrón de difracción suele ser limitado por la naturaleza y la energía de la radiación disponible, por la resolución del instrumento y por las condiciones físicas y químicas de la muestra. Dado que muchos materiales sólo pueden ser preparados en una forma policristalina, la técnica de difracción de rayos X se convierte en la única opción realista para una determinación de la estructura cristalina de estos materiales.
El laboratorio de rayos X del CIMAV Monterrey cuenta con los siguientes difractometros:
