INTRODUCCION
El Microscopio electrónico de barrido o SEM (Scanning Electron Microscopy), utiliza un haz de electrones en lugar de un haz de luz para formar una imagen ampliada de la superficie de un objeto. Es un instrumento que permite la observación y caracterización superficial de sólidos inorgánicos y orgánicos. Tiene una gran profundidad de campo, la cual permite que se enfoque a la vez una gran parte de la muestra.
El microscopio electrónico de barrido está equipado con diversos detectores, entre los que se pueden mencionar: el detector de electrones secundarios para obtener imágenes de alta resolución SEI (Secundary Electron Image), un detector de electrones retrodispersados que permite la obtención de imágenes de composición y topografía de la superficie BEI (Backscattered Electron Image), y un detector de energía dispersiva EDS ( Energy Dispersive Spectrometer) permite colectar los Rayos X generados por la muestra y realizar diversos análisis semicuantitativo y de distribución de elementos en superficies.
Se pueden realizar estudios de los aspectos morfológicos de zonas microscópicas de los distintos materiales con los que trabajan los investigadores científicos y las empresas privadas, además del procesamiento y análisis de las imágenes obtenidas. Las principales utilidades del SEM son la alta resolución (~1 nm), la gran profundidad de campo que le da apariencia tridimensional a las imágenes y la sencilla preparación de las muestras.
La preparación de las muestras es relativamente sencilla las principales características son: muestra sólida, conductora. Caso contario, la muestra es recubierta con una capa de carbón o una capa delgada de un metal como el oro para darle propiedades conductoras a la muestra. De lo contrario, las muestras no conductoras se trabajan en bajo vacío.
Las aplicaciones del equipo son muy variadas, y van desde la industria petroquímica o la metalurgia hasta la medicina forense.
EQUIPOS
1. Microscopio Electrónico de Barrido de Emisión de Campo Modelo Nova NanoSEM 200 Marca FEI
Características
- Resolución de 1nm a 30Kv, 1.5 nm a 10 kV (Bajo vacío).
- Voltaje Acelerador: 200 V a 30 kV.
- Modos de trabajo: Alto vacío para muestras conductoras, Bajo vacío para muestras semi y no conductoras.
- Detector de electrones Secuendarios, Retrodispersados y STEM (combina los elementos de un SEM y un TEM).
- Sistema EDS.
2. Sistema de Microanálisis De Energía Dispersiva de Rayos X (EDS o EDX) Marca Oxford Modelo INCA X-Sight.
El Nova NanoSEM200 está acoplado con un Sistema de Microanálisis Marca Oxford Modelo INCA X-Sight.
SERVICIOS
Ofrece estudios de morfología y análisis elemental (cualitativo y semicuantitativo) por espectroscopia de energía dispersiva (EDS) a superficies de muestras sólidas y determinación de espesores de recubrimientos, identificación de contaminantes en dispositivos electrónicos, metales, cerámicos, por SEM.
- Análisis morfológico superficial mediante imagen de electrones secundarios (SE) y análisis de composición y topografía mediante imagen de electrones retrodispersados (BSE).
- Análisis morfológico y químico de: a) materiales conductores en modo alto vacío, b) materiales no conductores en modo bajo vacío y c) modo de transmisión (STEM).
- Media y alta resolución hasta 500,000 X de magnificación y 1 nm de resolución.
- Análisis elemental por EDS (se pueden identificar elementos desde 1% wt, desde el carbono hasta einstenio).
- Determinación de tamaño de partícula.
- Determinación de espesores de recubrimientos (en la mayoría de los casos las muestras requieren un corte transversal, ser pulidas y químicamente atacadas).
- Análisis de falla de materiales en general.
- Determinación elemental de contaminantes en materiales sólidos (cerámicos, metálicos, polímeros, dispositivos electrónicos, recubrimientos, etc.).
- Mapas de Rayos-X en imagen de electrones secundarios o retrodispersados, los cuáles permiten conocer la distribución de elementos presentes.
- Determinación de textura en materiales cristalinos (se requiere conocer la cristalografía del material a analizar y una preparación especial).
- Estudio de interfase en materiales, valoración del deterioro de materiales.
- Comparación morfológica y de composición química de materias primas, materiales, productos finales, etc.
