Centro de Investigación en Materiales Avanzados, S.C.

EL LABORATORIO DE MICROSCOPÍA ELECTRÓNICA DE BARRIDO (MEB)

ofrece estudios de morfología y análisis elemental (cualitativo y semicuantitativo) por espectroscopia de energía dispersiva (EDS) a superficies de muestras sólidas y determinación de espesores de recubrimientos, identificación de contaminantes en dispositivos electrónicos, metales, cerámicos, entre otros, a través de MEB.

EQUIPOS:

Nova nanoSEM 200 FEI alta resolución (Unidad Monterrey).
JSM 5800LV JEOL convencional (Unidad Chihuahua).
7401F JEOL emisión de campo para alta resolución (Unidad Chihuahua).

SERVICIOS:

Análisis morfológico superficial mediante imagen de electrones secundarios (SEI) y análisis de composición y topografía mediante imagen de electrones retrodispersados (BEI). Media y alta resolución hasta 1´000,000 X de magnificación y 1 nm de resolución.
Análisis elemental por EDS (se pueden identificar elementos desde el carbono hasta einstenio).
Determinación de tamaño de partícula.
Determinación de espesores de recubrimientos (en la mayoría de los casos las muestras requieren un corte transversal, ser pulidas y químicamente atacadas).
Análisis de falla de materiales en general.
Determinación elemental de contaminantes en materiales sólidos (cerámicos, metálicos, polímeros, dispositivos electrónicos, recubrimientos, etc.).
Mapas de Rayos-X en imagen de electrones secundarios o retrodispersados (distribución de elementos).
Determinación de textura en materiales cristalinos (se requiere conocer la cristalografía del material a analizar y una preparación especial).
Estudio de interfase en materiales.
Análisis morfológico y químico de: a) materiales conductores en modo alto vacío, b) materiales no conductores en modo bajo vacío y c) modo de barrido-transmisión (STEM)